脉冲测试仪是一种可以削减器材总能耗的丈量技能。它经过削减焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器材或许造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器材（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。
　　通过脉冲测试，工程技能人员可以获得更多的器材信息，更准确地剖析和把握器材的行为特征。例如，使用脉冲测试技能可以对纳米器材进行瞬态测验，确认其搬运函数，然后剖析待测材料的特征。脉冲测试丈量关于具有恒温约束的器材也是必需的，例如SOI器材、FinFET和纳米器材，可以避免自热效应，防止自热效应掩盖研讨人员所关心的响应特征。器材工程师还可以使用脉冲测试技能剖析电荷俘获效应。在晶体管敞开后电荷俘获效应会降低漏极电流。跟着电荷逐渐被俘获到栅介质中，晶体管的阈值电压由于栅电容内建电压的升高而增大；然后漏极电流就降低了。
　　脉冲测试为人们和研讨纳米材料、纳米电子和现在的半导体器材提供了一种重要手法。
　　1、电流取样器：高压闪络测验时，电流取样器红、黑接线柱与测验线红、黑夹子对应衔接，并将电流取样器平行放置于电容器接地线3-5cm处。如信号强可移远些，信号弱可移近些。以收集到较好的波形为标准。
　　2、衔接电缆：仪器配套衔接电缆二条，为闪络测验时使用和低压脉冲测试时使用。
　　3、准确认点实物接线图：准确认点是测验电缆毛病关键的一步，粗测完后.撤走主机和多次脉冲产生器，给电缆接连加冲击高压使毛病点接连放电，频率大约放在3~4秒/次。带上声磁数显同步定点仪走到粗测间隔的前后10米处仔细听毛病点的放电声，听出声音zui大点下方即为电缆毛病点。